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手動晶圓級探針臺系統TS150&TS200&TS300的詳細介紹
TS150&TS200&TS300TS150&TS200&TS300應用于測試半導體晶圓級、器件類電學特性，具備可以快速拖動樣品臺，更換樣品功能，并且有著獨特Platen ...
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手動晶圓級探針臺系統（微屏蔽）TS300-SE的詳細介紹
TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高級EMI RFI ...
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手動晶圓級探針臺系統（微屏蔽）TS200-SE的詳細介紹
TS200-SE Probe SystemMPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI RFI 不透光屏蔽，超低噪聲，低泄 ...
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高功率探針臺系統TS2000-HP的詳細介紹
TS2000-HP Probe SystemMPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，先進的ShielDEnvironment™ ...
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高功率探針臺系統TS2000-DP的詳細介紹
TS2000-DP Probe SystemTS2000-DP是MPI提供一套多功能且經濟高效的8寸半自動高功率測試探針臺，可在20°C至300°C的溫度范圍內進行 ...
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高功率探針臺系統TS150-HP & TS200-HP的詳細介紹
TS150-HP & TS200-HPMPI大功率器件表征系統是專門為晶圓上大功率器件測試而設計的。MPI TS150-HP和TS200-HP探針系統提供了完整的150mm和 ...
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全自動晶圓級探針臺系統TS3500的詳細介紹
S3500 Probe SystemTS3500和TS3500-SE 在功能上與MPI著名的已建立的 TS3000 和 TS3000-SE 300毫米探針臺具有相同的功能，并通過配置 ...
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全自動晶圓級探針臺系統TS2500的詳細介紹
TS2500 Series Probe SystemMPI的200毫米 8寸全自動探針臺系統系列是專門為解決射頻(RF)和大功率晶圓測試而開發的，該系統旨在實現24 7 ...
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半自動晶圓級探針臺系統TS2000-SE的詳細介紹
MPI的TS2000-SE 8寸半自動探針臺是市場上首個具有創新功能的200mm自動化晶圓測試系統，其包含獨特的側面自動裝卸功能，優勢：適用于多種晶 ...
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半自動晶圓級探針臺系統TS3000-SE的詳細介紹
TS3000-SE是TS3000探針臺系統的升級開發，該系統配備了MPI ShielDEnvironment™，可實現超低噪聲，滿足設備的需求表征，晶圓級可靠性 ...
