手動晶圓級探針臺系統TS150&TS200&TS300的詳細介紹返回列表

TS150&TS200&TS300

TS150&TS200&TS300應用于測試半導體晶圓級、器件類電學特性，具備可以快速拖動樣品臺，更換樣品功能，并且有著獨特Platen平臺設計，測試重復性提高95%。

MPI 全系列探針臺具備模塊化設計,可搭配不同變倍比顯微鏡，同時與德國ERS聯合開發設計具有氣冷溫控技術的Thermal Chuck同步使用。

優點 :

• 適用于多種晶圓量測應用，如組件特性描述和建模，晶圓級可靠性 (WLR)、失效分析 (FA)、集成電路工程、微型機電系統 (MEMS) 和高功率 (HP)

更多詳細信息請點擊