首頁
產品
解決方案
開放實驗室
案例
企業
ENGLISH
ESD/TLP
極低溫磁場探針臺
MPI 探針臺
失效分析設備
測試儀表
PCB測試探針臺
雙面PCB探針臺,阻抗與損耗測試,超高頻汽車雷達,衛星通信
四探針法測量半導體電阻率測試方案
光電器件的LIV特性測試方案
功率器件的IV、CV特性測試方案
半導體霍爾效應測試方案
半導體分立器件IV、CV特性測試方案
太陽能電池的特性表征測試方案
Delta-L損耗測試
英鉑實驗室測試中心現有測試類型:直流測試、射頻測試、 高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等
企業簡介
新聞活動
人才招聘
開循環低溫探針臺 (LPS-50)
閉循環低溫探針臺 (CPS-50)
低溫磁場探針臺 (CMPS-35)
稀釋制冷機
1.5K系列低溫恒溫器
ICE 4k/10k系列恒溫器
300mK He-3低溫恒溫器
閉循環制冷機恒溫器(光學)
閉循環制冷機恒溫器(光學緊湊)
MPI TS50 – The University Talent
閉循環制冷機恒溫器(電學系列)
TS150-HP & TS200-HP