Hanwa HED-S5000R全自動HBM/MM/Latch-up測試機(256pin)
Hanwa HED-W5000M晶圓級HBM/MM/HMM測試儀
Hanwa HED-T5000高性能TLP
Hanwa HED-C5000R全自動CDM測試儀
Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機
Hanwa HCE-5000小型便攜ESD測試儀
HPPI TLP
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI 測試系統選件 MPI全系列測試耗材 MPI全系列Celadon探卡
酸/激光開封機 臺階儀 熱流儀 Vcsel光電測試系統 OKMETIC先進硅基襯底
R&S 羅德斯瓦茨 測試儀表 霍爾效應測試 Farran毫米波系統
PCB手動探針臺 PCB半自動探針臺 PCB全自動探針臺
英鉑實驗室測試中心現有測試類型:直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等

TS2000-DP Probe System
TS2000-DP是MPI提供一套多功能且經濟高效的8寸半自動高功率測試探針臺,可在20°C至300°C的溫度范圍內進行晶圓載片上高功率應用的測量,且測量能力高達3kV(三軸)/10kV(同軸)和600A(脈沖)。

ThermalAir TA-5000系列產品具有廣泛的溫度測試功能。臺式-60°C至+ 200°C應用,可在-80°C至+ 225°C的溫度循環環境應力 ...
· 高性價比, 穩定,可靠,使用方便· 溫度范圍 10K -400K· 4 2K- 480K (可選)· 閉循環制冷,無需消耗液氦· 樣品座尺寸: 1英 ...
半自動真空低溫探針臺使晶圓和器件在低溫下9k(singleCCR系統)、4 5K(dualCCR系統)甚至低于4K(triple CCR系統)的情況下能夠快速、經濟地進 ...
MPI的200毫米 8寸全自動探針臺系統系列是專門為解決射頻(RF)和大功率晶圓測試而開發的,該系統旨在實現24 7的生產可靠性,并與所有MPI系統 ...
主要技術指標· 高性價比, 穩定,可靠,使用方便· 溫度范圍 10K -400K· 4 2K- 480K (可選)· 閉循環制冷,無需消耗液氦· 樣品座 ...
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