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超低溫磁場探針臺的特點與優勢
· 可用于高達100mm、150mm和200mm的晶圓測試· 可配置4或6個探針臂。· 還可以選擇探卡進行測試· 顯微鏡選擇包括7:1,12 5:1和16:1數 ...
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低溫磁場探針臺三維磁場探針臺特點與優勢
· 磁場可以以三種模式被任意控制:固定的值, 線性掃描, 或者用戶可以自定義。· Wafer size：10mm，可升級到200mm· 磁場：方向任意 ...
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超低溫半自動探針臺的主要技術指標
· 高性價比, 穩定,可靠,使用方便· 溫度范圍 10K -400K· 4 2K- 480K (可選)· 閉循環制冷，無需消耗液氦· 樣品座尺寸： 1英 ...
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手動晶圓級探針臺系統TS150&TS200&TS300的詳細介紹
TS150&TS200&TS300TS150&TS200&TS300應用于測試半導體晶圓級、器件類電學特性，具備可以快速拖動樣品臺，更換樣品功能，并且有著獨特Platen ...
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手動晶圓級探針臺系統（微屏蔽）TS300-SE的詳細介紹
TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高級EMI RFI ...
