Hanwa HED-S5000R全自動HBM/MM/Latch-up測試機（256pin）
Hanwa HED-W5000M晶圓級HBM/MM/HMM測試儀
Hanwa HED-T5000高性能TLP
Hanwa HED-C5000R全自動CDM測試儀
Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機
Hanwa HCE-5000小型便攜ESD測試儀
HPPI TLP
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI 測試系統選件 MPI全系列測試耗材 MPI全系列Celadon探卡
酸/激光開封機 臺階儀 熱流儀 Vcsel光電測試系統 OKMETIC先進硅基襯底
R&S 羅德斯瓦茨 測試儀表 霍爾效應測試 Farran毫米波系統
PCB手動探針臺 PCB半自動探針臺 PCB全自動探針臺
英鉑實驗室測試中心現有測試類型：直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等
納米探針臺
納米探測面臨的挑戰
· 定位精度
· 安全(軟)著陸接觸
· 具有適當尖端半徑的可靠探針頭
· 清潔環境：試驗箱、樣品、探針頭
· 振動敏感性低
· 噪聲抑制
· 漂移補償
· 電路編輯/延遲：在FIB角度操作
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