高低溫半自動探針臺使用說明詳細介紹返回列表
高低溫半自動探針臺產品有:SiPH Probe SystemTS3000-SE Probe SystemTS3000 Probe SystemTS2000-SE Probe SystemTS2000 Probe S
高低溫半自動探針臺產品有:
MPI為其著名的TS2000-SE,TS3000,TS3000-SE,TS3500和TS3500-SE探針系統設計了專用的SiPH升級,包括:
• 高精度光纖對準系統的各種選項,可用于超快速掃描程序
• 面向OO,OE,EO和EE設備配置的多種測量功能
• 集成的Z感應功能可檢測光纖與晶圓的接觸點
• 使用兩個光纖臂時的防撞保護
• -40°C至200°C的寬溫度范圍
• 可選的暗箱,用于在密閉環境中進行測試
• 廣泛的軟件包,支持輕松集成到操作員的測試執行人員