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    高低溫半自動探針臺使用說明詳細介紹返回列表

    高低溫半自動探針臺產品有:SiPH Probe SystemTS3000-SE Probe SystemTS3000 Probe SystemTS2000-SE Probe SystemTS2000 Probe S

    高低溫半自動探針臺產品有:

    SiPH Probe System

    MPI為其著名的TS2000-SE,TS3000,TS3000-SE,TS3500和TS3500-SE探針系統設計了專用的SiPH升級,包括:

    • 高精度光纖對準系統的各種選項,可用于超快速掃描程序

    • 面向OO,OE,EO和EE設備配置的多種測量功能

    • 集成的Z感應功能可檢測光纖與晶圓的接觸點

    • 使用兩個光纖臂時的防撞保護

    • -40°C至200°C的寬溫度范圍

    • 可選的暗箱,用于在密閉環境中進行測試

    • 廣泛的軟件包,支持輕松集成到操作員的測試執行人員

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