Keithley全自動半導體參數分析儀系列特點與優勢返回列表

全自動半導體參數分析儀系列

S530 參數化測試系統 適用于必須操作各種設備和技術的生產和實驗室環境，提供業界出色的測試計劃靈活性、自動化、探頭測試臺集成以及測試數據管理功能。吉時利擁有超過 30 年的專業經驗，針對這些測試解決方案的設計向全世界的客戶提供各種標準和自定義參數化測試儀。

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