低溫磁場探針臺半自動探針臺主要技術指標返回列表
超低溫半自動探針臺其提供了一個經濟的, 穩定的, 可靠的超低溫和強磁場環境用于微納器件和芯片的測試 得益于優異的振動隔離、熱力學，
超低溫半自動探針臺其提供了一個經濟的, 穩定的, 可靠的超低溫和強磁場環境用于微納器件和芯片的測試. 得益于優異的振動隔離、熱力學，使這套系統應用非常廣泛， 橫跨納米電子學自旋電子學 , 分子電子學等。
系統使用閉循環制冷機和優異的熱力學設計，特別設計的低振動系統，達到行業的優秀標準。超穩定的位移臺為探針扎針測試提供一個可重復的測試結果。可選擇性的探針和晶圓卡盤提供了超精密fA-級測試。 系統可進行DC/RF/毫米波/光纖等多種光電定位性能測試。
主要技術指標
· 高性價比, 穩定,可靠,使用方便
· 溫度范圍 10K -400K
· 4.2K- 480K (可選)
· 閉循環制冷，無需消耗液氦
· 樣品座尺寸： 1英寸( 2英寸可選)
· DC - 325GHz 、HP、光纖臂可選
· 4個探針臂 (最多可選配6個探針臂)，高精度XYZ and 可選 θ 旋轉調節
· 在探針上獨特的熱沉設計
· 樣品座和防輻射屏溫度可控
· 窗口(高純石英-其他材質可選)
· 高頻減震系統
· 可提供垂直、水平以及多維磁場垂直方向可達到5T，水平方向達到1T以及1T的多維磁場配置
· 系統集成Labview軟件，可方便被客戶進行儀表端集成
如果以上不能滿足您的測試需求，我們將會提供高水平的定制服務
