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    半自動探針臺手動扎針具體步驟TS3000-SE返回列表

    TS3000-SE是TS3000探針臺系統的升級開發,該系統配備了MPI ShielDEnvironment™,可實現超低噪聲,滿足設備的需求表征,晶圓級可靠性

    TS3000-SE是TS3000探針臺系統的升級開發,該系統配備了MPI ShielDEnvironment™,可實現超低噪聲,滿足設備的需求表征,晶圓級可靠性以及RF和mmW等多種應用。

    優勢:

    適用于多種晶圓量測應用

    • 模塊量測 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f,RTS

    • 射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上

    • 可靠性測試 - 精確的壓力測試

    MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境

    • 專為 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽所設計的精密量境,以得到最佳的 1/f 超低噪測試結果

    • 支援 fA 級超低噪 IV 量測

    • 可編程的顯微鏡滑臺實現自動化之簡便操作

    • 具配置彈性的溫度可量測范圍 -60 °C 至 300 °C

     

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