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    MPI 半自動晶圓級探針臺系統TS2000-SE Probe System(一)返回列表

    MPI的TS2000-SE 8寸半自動探針臺是市場上首個具有創新功能的200mm自動化晶圓測試系統,其包含獨特的側面自動裝卸功能,優勢:適用于多種晶

    MPI的TS2000-SE/8寸半自動探針臺是市場上具有創新功能的200mm自動化晶圓測試系統,其包含獨特的側面自動裝卸功能,

    優勢:

    適用于多種晶圓量測應用

    • 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulse-IV

    • 射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上

    • 失效分析 - 探針卡 / 節間探測

    • 可靠性測試 - 熱/ 冷 / 長時間測試

    • 高功率測試 - 至高 10 kV / 600 A

    MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境

    • 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境

    • 支持飛安級低漏電值量測

    • 支持溫度范圍 -60 °C 至 300 °C

    ShielDEnvironment™

    MPI ShielDEnvironment™是一個高性能的微屏蔽暗箱,可為超低噪聲,低電容測量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測試環境。

    ShielDCap™

    MPI ShielDEnvironment™允許多達 4個端口的RF或多達8個端口的DC / Kelvin等多種測試組合。

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