英鉑科學助力復旦大學搭建半導體功率器件測試系統返回列表
產品介紹
1.、MPI的 TS3000 是半自動300mm探針臺測試系統，搭配獨特的可開放式做高低溫測試，專門為產品工程，故障分析，設計驗證，晶圓級可靠性以及RF和mmW應用而設計。
2、帶有 KTE 7 軟件的KeithleyS530 系列參數測試系統，可提供高速、完全靈活的配置，能夠隨著新應用的出現和需求變化而不斷發展。
產品優勢
MPI TS3000
• 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV / RF / HP
• 溫度范圍-60°C至300°C
• 較強的靈活性
• 具有和電纜接口的與功能測試儀的最小的連接距離，可實現更好的測量穩定性
• 較小的Chuck到工作臺面高度可實現不錯的內部節點探測
• 內部集成自動檢測露點安全控制系統，將系統占地面積降至較低
泰克 S540
• 在單次探頭觸摸中自動在多達 48 個引腳上執行所有晶片級參數測試，包括高電壓擊穿、電容和低電壓測量，而無需更改電纜或探頭卡基礎設施
• 在最高達 3kV 的條件下執行晶體管電容測量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而無需手動配置測試引腳
• 在高速、多引腳、全自動測試環境中實現低電平測量性能
• 基于 Linux 的 Keithley 測試環境 (KTE) 系統軟件支持輕松進行測試開發和快速執行
• 非常適合于過程集成、過程控制監控和生產芯片分類中的全自動或半自動應用
• 通過最大程度減少測試時間、測試設置時間和占地面積，降低擁有成本，同時實現實驗室級測量性能
泰克 S530
•High Speed Production Test Solutions
• Applications include Semiconductor Process Control Monitoring(PCM),TEG Test,and Die Sort
• Parallel Test capability maximizes test throughput
• Measure from kV to fA in a single probe touchdown to further boost productivity
• ISO-17025 System-level calibration
• Smooth migration from legacy test systems, including probe card re-use
• Low Cost-of-Ownership(COO)
