探針臺使用實驗探針臺測試探針規格和工作原理是什么?返回列表
探針臺主要應用在半導體
關于探針臺產品的分類:
一般根據用戶測試樣品、測試環境、應用類別、產品級別以及操作方式分類,如下:
1)按測試樣品分類,可分為:晶圓測試探針臺、LED測試探針臺、功率器件測試探針臺、MEMS測試探針臺、PCB測試探針臺、液晶面板測試探針臺、太陽能電池片測試探針臺、材料表面電阻率測試探針臺、納米器件測試探針臺;
2)按應用及測試環境分類,可分為:高頻、射頻及微波測試探針臺、高/低溫環境測試探針臺、高/低溫真空環境測試探針臺、低電流(fA級)測試探針臺、IC/IV /p-IV測試探針臺、高壓、大電流測試探針臺、特殊氣體環境測試探針臺、磁場環境測試探針臺、雙面點針測試探針臺、全封閉式探針臺(非真空環境);
3)按級別分類可分為:簡易型探針臺、標準型探針臺、分析型探針臺、高端型探針臺
4)按操作方式可分為:手動型、半自動型、全自動型
5)按特殊應用測試分為:非標準類結構測試探針臺