英鉑科學攜手MPI助武漢理工搭建多功能高低溫電學測試系統返回列表

產品介紹：

MPI TS200-SE適用于多種晶圓量測應用，如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 、失效分析 (FA)和1/f低噪聲測試。

產品優勢：

1.MPI ShielDEnvironmentTM屏蔽環境

• 專為EMI/RFI/Light-Tight屏蔽所設計的精密量測環境

• 支援飛安級低漏電量量測

• 溫度量測范圍-60℃至300℃

2.具備氣浮式樣品臺，可快速移動樣品到待測位置

• 快速移動樣品臺的行程為：225*260mm（8.9*10.2in）

• 精調全部用的日本Mitutuyo三豐的千分尺，更穩定更耐用，范圍為：25×25mm

• 樣品臺具備一鍵氣浮快速升降，行程為：20mm，搭配日本三豐精調千分尺，精調行程為：5mm

3.針座具備快速升降功能，可快速更換待測點

• 三檔式快速抬桿，3mm(架針)、300um(分離)0um (接觸)

• 搭配前級微小抬桿(150um、100um、50um高度可選)縮短抬升范圍

• 測試效率提升20倍

• 最大MicroPositioner承裁數量:8DCor4DC+2RFor2DC+4RF

• 在這種操作下，連續測試10個器件，S21參數重復誤差低于-60dB

• 具備抬升安全鎖

4.有著獨特的樣品臺設計

• 樣品臺具備更多的真空吸附口，樣品固定更穩定，并且可以支持碎片/單顆器件/封裝器件等

• MPI TS200-SE具備模塊化升級RF、高功率等測試

5.MPI的針座以及線纜固定設計專門為高精度測試設計

• MPI所有針座采用昂貴的碳鋼材料，所以重量是FF的針座的2-3倍。磁吸附后更穩定，更不容易因為震動而位移或者因為溫差而變形。測試重復性提高95%

• TS200-SE所有測試探針、線纜、樣品等全部密封在屏蔽室內，提高測試精度