英鉑實驗室測試中心現有測試類型:直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等
MPl懸臂探針卡廣泛應用于金凸點和焊盤晶圓測試,用于顯示驅動器、邏輯和存儲設備。
MPI的懸臂式探頭是對細間距、小焊盤尺寸、高速、清潔少、多DUT、高引腳數和超低泄漏要求的相應解決方案。
1、使用對角線或托架應用程序執行多個DUT配置,以實現超常規對齊和平面度
2、減少高溫或低溫試驗期間的熱變形
3、R+和U+結構的高速解決方案,用于嚴格的Pl和Sl應用
4、通過先進的探針材料和設計,穩定低接觸電阻性能
5、交付周期短,是工程設備的理想選擇
MPl懸臂探針卡廣泛應用于金凸點和焊盤晶圓測試,用于顯示驅動器、邏輯和存儲設備。
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