霍爾效應測試系統ezHEMS

產品概要：

霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必備的工具。

基本信息：

•電阻率測量范圍:10-4-109?·cm(取決于樣本)

•遷移率:1-107cm2/V·S(取決于樣本)

•載流子濃度: 107 -1021 per cm3 (取決于樣本)

•電流源:±2nAto±20mA,±12Vcompliance

•測試霍爾電壓可小至:0.1µV

•支持霍爾巴和范德堡樣品測試

•磁場大小:0.6Tor1T永磁鐵

•溫度  HT head (300-800K)；RT head (300K)；LT head ( 80-500K)

•樣本量  LT and HT heads; 5x5mm -15x15mm；RT head; 10x10mm；Thickness ≤2 mm for 1T magnetic field；Thickness ≤5 mm for 0.6T magneic field

•通過軟件控制電磁鐵運動

技術優勢：

1、可靠的精度

2、產品小型化及操作簡單化

3、多樣的實驗結果

應用方向：

主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數。

 

霍爾效應測試系統ezHEMS

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