TS2000-IFE Series

產品概要：

MPI TS2000-IFE 是一個自動化平臺，可以在現場轉換為全自動探測站，它融合了 MPI 先進技術，例如PHC™標準功能，mDrive™或VCE™可選或升級。

基本信息：

測試效率提升

MPI 的 WaferWallet®MAX 是可現場升級的，從多個 100 或 150 或 200 毫米晶圓收集數據，并將測試提升到預生產環境中。具有較快的熱轉換時間、縮短的浸泡時間、先進的對準技術、晶圓盒或晶圓熱/冷交換WaferWallet®MAX 將系統生產力和測試電池效率提高了 10 倍。

先進的對準功能

例如向下看的離軸和卡盤安裝的向上看的相機，使 TS2000-IFE 成為在復雜的 RF、mmW 和 SiPh 測量配置中進行測試的理想平臺。MPI 光子自動化部門數十年的經驗使這些功能高度可靠。Wafer-ID 讀取器也可作為選件提供。

IceFreeEnvironment™

結合 MPI 的 IceFreeEnvironment™，TS2000-IFE 可在-60 ° C 至 +300 ° C的寬溫度范圍內同時使用 MicroPositioner 和探針卡進行測試。該設計縮短了信號路徑，從而使探針臺成為毫米波和/或負載牽引應用的理想選擇。

熱卡盤集成

由于集成了智能冷卻器，TS2000-IFE 提供了優化的占地面積，以節省實驗室的寶貴空間以及最快的熱轉換時間。MPI 和 ERS ??共同設計了新的 PRIME 200 mm 卡盤系列，提供很好的熱靈活性，將浸泡時間縮短 60%，并提供廣泛的熱范圍和現場升級。熱力系統可以通過使用完全集成的觸摸屏顯示器進行操作，放置在操作員面前的方便位置，以便快速操作和即時反饋。

集成硬件控制面板

智能硬件控制面板完全集成到探頭系統中，基于數十年的經驗和客戶交互設計，提供更快、更安全、更方便的系統控制和測試操作。鍵盤和鼠標位于戰略位置，可在必要時控制軟件，還可控制 Windows®基于儀器。

ERS與AC3 冷卻技術合并

這些卡盤采用 AC3 冷卻技術和自我管理系統，使用循環冷卻空氣凈化 MPI ShielDEnvironment™，空氣消耗量大幅降低 30% 至 50%。

MPI SENTIO®

通過使用基于簡單性和真正直觀操作的新穎方法，MPI 開發出革命性的多點觸控探針控制軟件套件，以解決當今操作復雜探針測試系統的挑戰。MPI 的目標是顯著節省培訓時間并使操作員的生活盡可能輕松，即使通過操作全自動 TS2000-IFE 探針臺也是如此。

技術優勢：

1、測試效率顯著提高

2、先進的對準功能

3、占地面積更為優化

4、將ERS與AC3冷卻技術合并

應用方向：

主要應用是負載牽引、射頻、毫米波、 硅光子學、設計驗證(產品工程)或在定義的測試環境下測試MEMS和其他傳感器。

 

TS2000-IFE Series

TS2000-IFE Series

TS2000-IFE Series

TS2000-IFE Series