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    MPI 手動晶圓級探針臺系統(微屏蔽)TS300-SE/TS200-SE返回列表

    MPI 手動晶圓級探針臺系統(微屏蔽)完善的半導體領域、微納米實驗室測試方案集成商TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment&t

    MPI 手動晶圓級探針臺系統(微屏蔽)

    完善的半導體領域、微納米實驗室測試方案集成商

    TS300-SE Probe System

    MPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測量功能環境。 它以較佳高度與防震臺結合在一起,使日常操作非常方便。

    適用于多種晶圓量測應用

    • ,如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)

    MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境

    • 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境

    • 支援飛安級低漏電量量測

    • 內置防震系統

    TS200-SE Probe System

    MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測量功能。

    適用于多種晶圓量測應用,

    • 如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)

    MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境

    • 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境

    • 支援飛安級低漏電量量測

    • 溫度量測范圍 -60 °C 至 300 °C

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