英鉑科學 參加第五屆深圳國際半導體技術暨應用展覽會返回列表

·實驗室及產線CP/WAT全套測試設備和解決方案

·各類型探針臺(手動、半自動、全自動、真空、極低溫、磁場、光電等)

·各功能型號儀表(源表、半導體參數分析測試儀、網絡分析儀、負載牽引、ESD/TLP測試儀、Pulsed-IV系統、高壓大電流測試機等)

·各功能定制軟件

·各類常用耗材和備件

針對領域：

·IV/CV等建模、測試

·RF及mmW等建模、測試、量產測試

·HV/HC等大功率器件建模、測試、量產測試

·RE可靠性測試

·FA失效分析

·FT熱循環測試

·PD/APD、激光等光電產品量產測試