磁場低溫探針臺技術指標和主要功能返回列表

磁場低溫探針臺是一種用于物理學領域的計量儀器，于2017年3月6日啟用。

磁場低溫探針臺技術指標

1、 ±2.5T垂直磁場

2、 10K基礎溫度，溫度范圍：10K-500K

3、 制冷方式：閉循環制冷，不需要消耗液氦

4、 控溫穩定性：優于±200mK

5、 探針臂X方向可移動距離不小于51mm

6、 探針臂Y方向可移動距離不小于25mm

7、 探針臂Z方向可移動距離不小于18mm

8、 直流探針頻率范圍：DC-50MHz

9、 顯微鏡系統光學分辨率優于4µm

10、 一個尺寸不小于1.25英寸的接地樣品座。

磁場低溫探針臺主要功能

配合電學儀表實現電子器件的電磁學特性表征，支持DC-50MHz電信號測量，可提供正負2.5T垂直磁場環境以及10-500K溫度環境。

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